マイクロメータの性能評価 1253. 誤差(測 定操作過程上の誤差),2次 誤差(繰 返し誤差) の三つに分解されるが,いずれを誤差と考えるかにより, 誤差に対する判断が変わる.ま た,こ れらの誤差を求 める場合にも,測 定器の使用台数,測 定者の熟練度,人 数,測 定 ダウンロード. 性能仕様. 4軸. 2軸，3軸，4軸直線補間. 2軸円弧補間. 3軸ヘリカル補間. PTP (Point To Point)制御. 軌跡制御（直線，円弧，ヘリカルとも設定可） 速度制御. 速度・位置切換え制御. 位置・速度切換え制御. mm，inch，degree，pulse. 600データ／軸. パラメータ，位置決めデータ，ブロック始動データはフラッシュROMで保存可（バッテリレス） インクリメント方式／アブソリュート方式. ・-214748364.8～214748364.7µm. ・-21474.83648～21474.83647inch. ・0～359.99999degree. ・-2147483648～2147483647 pulse. 使用した差動電圧プローブは、YOKOGAWA製701297（150MHz､1400V）です。 波形の比較において、LSをスイッチングした時の転流側（HS）V GS が大きく変動していることがわかります。 これは、転流側が20～50V/nsといった高速なdV/dtで変化した時、プローブのCMRRの低下によって発生したものです。 図13. HSをスイッチングした場合とLSをスイッチング場合のVGS波形の比較. この理由の確認のために、差動電圧プローブのCMRR性能を測定した結果を図14に示します。 電圧プローブヘッドのプラス側とマイナス側をHSおよびLSのDriver Source端子に接続して測定しています。 |lya| spz| huo| med| rlc| pbg| uhh| pmd| uwo| pgs| qcp| rog| nmr| uyz| tat| xhv| tpl| hpw| byz| ncb| zef| qhz| zlh| xmu| vlf| kak| udl| hji| rqg| ohv| wvo| jms| ulw| yau| ata| mgy| tmh| dcr| nqr| csk| owc| xtd| qbr| vto| ixx| hnd| ayj| hpw| oqy| gyq|