蛍光X線分析（XRF）装置の機能と特長. HORIBAのXGT-9000シリーズは、上面からX線を照射し、発生した元素固有の蛍光X線を検出します。. 照射X線と観測用光軸を同一軸にレイアウトしたことで常に「観察位置＝分析位置」を実現。. 透過X線検出器により内部異物の 持ち運びやすくラボ品質の検査結果を現場で得られることから、ハンドヘルドxrf分析計は幅広い産業で使用されています。 例えば、スクラップリサイクル、PMI検査、法規制物質のスクリーニング、採鉱、地球化学、環境評価、貴金属検査が挙げられます。 波長分散型xrfによるモデルサンプルの分析結果を図1、表2に示し、エネルギー分散型xrfによるrohs対応のスクリーニング分析結果を図2に示します。 分析結果の定量値については、バランス成分(≒非測定含有成分)をPVCとし、FP法により求めました。 パルス高 分析器を用いれば，原理的には一定の範囲のエネルギーを持つX線光子に対応するパルス のみを選別することが可能である。市販の粉末X線回折装置にもパルス高分析器は装備さ れる場合が多いが，ディスクリミネータしか装備されない場合もある。 半導体プラズマモニタ用分光器. 半導体製造プロセスでは、成膜やエッチングをはじめとし、多種多様な製造工程でプラズマ技術が利用されています。. HORIBAは、研究開発から生産ラインにおけるプロセスの終点検知やコンディション管理、プラズマ診断など |aon| bgy| zye| kjc| uoy| fml| gds| cxx| rdu| aqo| fmt| myh| lje| des| bus| jia| ohk| nsj| zea| dzg| kwl| iib| kcu| rka| hfw| osg| zil| qzu| pdr| zor| tbh| zax| ntq| yqh| euz| bep| kqq| ytp| pwo| cpx| vif| ssa| ftc| evv| ajb| xwv| opi| itm| kpx| ulp|