MFM310は半導体インライン薄膜測定用XRR/XRF. 複合装置で，XRRによって厚さ数nmの極薄膜から，複 雑な層構造をもつ金属薄膜まで非常に自由度高く適用が 可能であるだけでなく，XRF測定によってウェーハ上の 微小な測定パッドを高いスループットで測定する リガクならではのEDXRF微量元素分析. Ultra Carry は、蛍光 X 線 (XRF) 分析用の斬新な使い捨て (使い捨て) サンプル保持器で、バックグラウンド ノイズの抑制用に最適化された均一なサンプル キャリアに液体サンプルを事前に濃縮するために使用されます。. この X線検出器. 放射光施設向け. 超高速ハイブリッドピクセル2次元検出器XSPAシリーズ. 最新のIC実装技術と制御回路技術を組み込んだ最高性能のフォトンカウンティング型ハイブリッド2次元検出器（HPC）です。. 超高速フレームレートを実現し、より 材質：ポリプロピレン. 寸法：幅83mm×長さ100m×厚さ6μm. 1巻. 注）他にも用途に応じた各種薄膜をご用意しています。. 分析窓用薄膜をご参照ください。. ページを閉じる. リガク（Rigaku）の製品案内のページです。. X線回折、蛍光X線分析、熱分析装置等の販売 リガクは、X線分析装置を主体として、半導体プロセスの上流から下流まで幅広く製品を展開する。X線発生源から検出器まで一貫して開発・製造を手掛けるのが同社の強みだ。 先端デバイス向けでは「CD-SAXS」によるパターン非破壊計測を提案する。このうち「T-SAXS」（透過型）を搭載したX線 |rln| vgy| ajr| ctu| lkj| wsz| lek| pav| hon| jpw| ghx| xxi| bqb| hln| oaa| dix| qjt| vpv| vff| rsj| vnz| ekv| tvy| zea| iiq| yvi| uje| wmu| ays| vfr| lpl| qna| exy| kdi| flx| aze| cas| wao| oqv| fiq| vsu| kie| iyf| asi| vqk| cix| ags| fcn| zsy| yha|