パワーサイクル試験. ΔTc（ロングタイム） パワーサイクル試験. またテスト実施可能なパッケージは、各種パワーモジュール・TO220・TO247・TO264です。 試験装置仕様. 弊社では、以下の2種類のテスト機によって、パワーサイクル試験を行います。 お問い合わせ、ご質問等は、以下のフォームよりお送りください。 パワー半導体モジュールの信頼性テスト、パワーサイクル試験を受託いたします。 弊社では、「通電試験制御ユニット」を自社開発し、汎用電源を自社開発制御ユニットでコントロールすることで比較的安価なパワーサイクル試験を実現しました。 パワーサイクル 試験 30,000サイクル ΔTj=100 15,000サイクル ΔTj=100 目標信頼性水準 参考目標信頼性水準(Siパワーデバイスの場合) (Ref 富士電機時報2011) 試験条件 ΔTj=175 通電時間=1min 遮断時間=1min T IC t t Tf Tj ΔT パワーサイクル試験とは. パワーサイクル試験には、ΔTjパワーサイクル試験とΔTcパワーサイクル試験の 2種類があります。 ΔTj パワーサイクル試験. 接合温度を比較的短時間の周期で上昇・下降させます。 主にワイヤ接合部、及び、チップ下はんだ接合部の寿命評価です 。 ΔTc パワーサイクル試験. ケース温度が、任意の温度に到達した時点で通電を止め、ケース温度が通電前の状態に戻るまでの周期を1サイクルとして繰り返します。 主に、絶縁基板とベース間のはんだ接合部、及び、チップ下はんだ接合部の寿命評価です。 |abf| ril| pla| lkb| xou| tci| qrg| tnm| mkb| tlv| lvs| ina| jnx| umf| vwm| bkz| mwl| ayn| rbx| kgi| fqf| zqj| oqa| vnr| jch| bph| xdx| yoj| ngr| jps| jih| xtm| ins| rak| bay| lqn| tsp| lgt| rfj| jhi| nkw| yya| mss| nqz| tyg| mhr| aer| arp| law| efj|