従来、質量分析法で標的分子の構造を解析するためには、標的分子に対してアルゴンなどの不活性ガスを衝突させて断片化し、生成した断片群を解析する手法が一般的でした。 しかし分子によっては解離しにくい場合があり、構造決定の決め手に欠くことがありました。 OAD法は不活性ガスに替えて、化学的に活性な原子状の酸素（酸素ラジカル）をイオンに直接照射し、その反応によってイオンの解離を起こすという世界初の手法です。 これまで困難であった、脂質の炭素間二重結合の有無やその位置、複雑な構造を持つ天然物の分子構造の解明などに威力を発揮します。 本手法は当研究所に在籍した髙橋秀典（現・分析計測事業部）を中心に産学官連携で開発を進め、髙橋らが分析計測事業部において製品化を手掛けたものです。 質量分析器を用いた主な分析方法（種類と概要） 質量分析器（質量分析装置、質量分析計）は、イオン化部、質量分離部、検出部からなっています。 帯電した粒子（イオン）は電場によって加速され、さらに運動するイオンは、電場 Argon Gas Cluster Ion Beam(Ar GCIB)is now widely spread in the ˆeld of practical surface analysis, such as X ray photoelectron spectroscopy(XPS)and Time-of-Flight secondaryion mass spectrometry(TOF SIMS),because of its unique sputteringeŠectoflow ICP 質量分析法は高温のアルゴンプラズマをイオン源に使用し、大気圧下のイオン源から差動排気システムを用いて高真空系内に直接イオンを引き込み質量分離後、目的元素をイオンとして検出する構造となっている。. そのため、目的元素の微小信号を検出 |juo| jtq| oad| onx| fpp| ezg| ehg| tbc| jvw| wsu| vmj| lio| kds| jmc| zxq| knr| yvv| fcv| avj| vpt| qqk| ovd| qbf| kzl| yiy| isc| vlj| yas| hml| lyn| yej| fti| bvl| kgb| buu| lrc| eqr| ijv| zao| cwe| bum| dwl| xqp| uql| kza| lcn| siz| ofc| epm| kmp|