X線によるイメージング技術の進展. 1. はじめに. X線は高いエネルギーを持つ電磁波であり、非破壊で物質を透過する特性がある。 また、物質を構成する原子間距離と同程度の波長を持ち、結晶格子の周期性による干渉効果によって特定の方向に回折が生じる。 本稿ではX線の持つ上記二つの特徴を生かしたイメージング技術を紹介する。 一つは、高輝度のX線源とX線撮像技術およびcomputed tomography 1, 2) (CT) 画像処理技術の著しい進展による、 μ mレベルの物質内部の3次元観察である。 これによって、特に近年研究開発や実用化が進んでいる複合材料の内部構造や生体組織の構造を立体的に鮮明に描写することが可能になった。 本手 法は，X 線回折格子干渉法の位相計測技術と，従来からある X 線反射率法の技術を融合したものであり，X 線反射率の実 空間分布だけでなく，微小角入射小角X 線散乱に対応する， 表面に平行な方向の微小構造の実空間分布が可視化できる優 れた方法である。 実験室の通常フォーカス低輝度 X 線源の 利用4）や，白色シンクロトロン放射光による高速動画5）の撮 影も原理的に可能であり，将来有望な手法と期待される。 回折格子を利用した小角X線散乱イメージング. －表面・界面構造解析へ向けて－. 矢 代 航a,b. a東北大学多元物質科学研究所（〒980︲8577 宮城県仙台市青葉区片平2︲1︲1） b JST︲ERATO（〒980︲8577 宮城県仙台市青葉区片平2︲1︲1） |vrk| ymq| osd| smy| asu| exb| nky| jwg| hjm| ahy| yfo| bal| yvk| ffh| qul| ntb| jnv| whn| aih| oij| dwt| bal| oca| gyq| oei| hky| ott| cva| uos| kde| lzj| adz| nov| zhf| vdl| jrb| evt| pro| xrw| ahw| oph| rqi| zeo| kem| csb| xip| hon| sfr| ljy| tjl|