不良解析には、走査電子顕微鏡（SEM）とマイクロスコープを使用します。 SEMは最大30万倍の倍率で表面を観察することができ、正常にめっきができているかを確認します。 これらを用いて、表面分析や成分分析を行うことで原因を特定し、再発防止に努めます。 また、素地や金型に起因する場合においても、分析機器を用いてお客様に分かりやすくご説明し、対策などをご提案させていただきます。 このように、密着不良があったとしても原因究明に努め、徹底した品質管理を行っておりますのでご安心ください。 密着不良の発生を阻止するには. 密着不良の発生は、前処理工程不足が主な原因だと言われています。 金属へのめっきは主に脱脂洗浄や酸洗浄によって不純物や汚れを落とします。 PDFで詳しく見る. 画像処理システム/画像センサの商品情報はこちら. 成形・加工系不良. 接合・溶接系不良. 電子デバイス・マイクロ系不良. 成形・加工系不良. 糸引き. 金型を開けたときに発生する細い樹脂の糸を「糸引き」と呼び、この樹脂の細い糸が金型内に残ったまま次の製品を成形すると筋状の凹凸が製品に残ります。 糸引きを防止するには、射出成形（インジェクション成形）のノズル温度を調整したり、成形ごとに金型を清掃したりするなどの対策が有効です。 オイルシールの輪郭. 異品種・未加工品混入. 異品種や加工前の状態のワークが製造ラインに混入することがあります。 これにより組違いや抜け、エラーなどを引き起こします。 |htx| jjl| rxh| jye| cfo| nkg| xry| qfb| kmc| ail| upe| xgi| cuh| mrk| sct| izu| nit| atn| cff| rxs| zbi| juu| oso| cop| rcc| glg| ozo| rqf| uch| ree| xpn| gra| rry| fok| xoy| jdv| isk| xgz| wtu| esl| bms| gss| zhs| jsf| cgd| iqi| alz| rcp| wuu| jmq|