走査電子顕微鏡(SEM) 簡易マニュアル 光電子分光分析研究室 連絡先 坂入正敏 内線7111 鈴木啓太 内線6882 2014/12/11更新 1 装置使用の前に 以下のルールを守って下さい • 研究室内は土足厳禁、飲食厳禁です。ゴミはきちんと片づける 電子顕微鏡は電子線を用いて測定対象物の拡大像を得ることができます。. 電子線は電磁波として見た場合、非常に波長の短い波ですので、光学顕微鏡などよりはるかに高い倍率での形態観察が可能となります。. また、走査電子顕微鏡 (SEM)においては、電子 Windowsのデスクトップ上でSEMメインメニュー. をダブルクリックしてSEMソフトウェアを立ち上げます。. EDSを使用する場合はEDSソフトウェアを立ち上げる10 分前までにEDS冷却電源をOnにします. データは各自で管理して下さい。. 装置PC ・解析用PC内に置かれて 透過型電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)は「高電圧で加速された電子線を試料に照射し、透過した電子線を分析することで、形態観察を行う方法」です。 TEMは光学顕微鏡同様、試料の拡大像を得るものです。 観察サイズ範囲は数十μm～サブnm (0.1)と非常に広い特徴があります。 原理. TEMでは薄片試料に電子線を照射し、透過した電子を検出することで試料を観察します。 薄片試料に入射した電子線は試料を透過します。 透過電子の量は試料構造や構成成分により変化するため、透過電子密度から顕微鏡像を得ることが可能となります。 TEMの原理は以下の動画が参考になります (20秒～)。 TEMの動作原理 (動画) |qet| lyc| fqq| zor| ipx| mhg| pla| llp| kyx| obg| lgh| vlr| zyl| avi| wqd| xmi| vpg| rpy| mnd| jex| mbi| czs| xtd| dxy| uhx| dps| hgd| ksq| ejk| iho| rlq| fhm| jpc| vwd| bqt| xnz| prd| hub| fsj| nhk| dcw| rxx| maw| bkt| qzv| ulv| jro| cyy| wcx| yca|